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SN74ABTH182646APM

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SN74ABTH182646APM

SN74ABTH182646APM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

SOT-23

SN74ABTH182646APM Fiche de données

non conforme

SN74ABTH182646APM Tarifs et commandes

Quantité Prix ​​unitaire Prix ​​ext.
1 $20.18000 $20.18
10 $18.61200 $186.12
25 $17.77520 $444.38
160 $15.89313 $2542.9008
640 $14.42928 $9234.7392
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Réduction des coûts de nomenclature
Réduction des coûts de nomenclature
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Nom Valeur
statut du produit Active
type logique Scan Test Device With Transceivers And Registers
tension d'alimentation 4.5V ~ 5.5V
nombre de bits 18
température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
type de montage Surface Mount
paquet / étui 64-LQFP
package d'appareils du fournisseur 64-LQFP (10x10)
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Numéro de pièce associé

SN74ABTE16245DGGR
Texas Instruments
SN74ABTE16245DGGR
$0 $/morceau
SN74ABT18245ADLR
Texas Instruments
SN74ABT18245ADLR
$0 $/morceau
SY89316VMG-TR
Microchip Technology
SY89316VMG-TR
$0 $/morceau
SN74S1053NSR
Texas Instruments
SN74S1053NSR
$0 $/morceau
AM2954DC
Advanced Micro Devices
AM2954DC
$0 $/morceau
MC100EL16D
onsemi
MC100EL16D
$0 $/morceau
SN74FB2041ARCR
Texas Instruments
SN74FB2041ARCR
$0 $/morceau
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
$0 $/morceau
DM54S283J/883
National Semiconductor
DM54S283J/883
$0 $/morceau
MC100LVEP16D
onsemi
MC100LVEP16D
$0 $/morceau
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