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SN74ABTH18652APM

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SN74ABTH18652APM

SN74ABTH18652APM

Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

SOT-23

SN74ABTH18652APM Fiche de données

non conforme

SN74ABTH18652APM Tarifs et commandes

Quantité Prix ​​unitaire Prix ​​ext.
1 $17.94000 $17.94
10 $16.48400 $164.84
25 $15.80080 $395.02
160 $13.92181 $2227.4896
640 $12.38445 $7926.048
6459 items
Ajouter au souhait
Réduction des coûts de nomenclature
Réduction des coûts de nomenclature
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Nom Valeur
statut du produit Active
type logique Scan Test Device With Transceivers And Registers
tension d'alimentation 4.5V ~ 5.5V
nombre de bits 18
température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
type de montage Surface Mount
paquet / étui 64-LQFP
package d'appareils du fournisseur 64-LQFP (10x10)
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Numéro de pièce associé

SN74SSTV32867GKER
Texas Instruments
SN74SSTV32867GKER
$0 $/morceau
74F283SJX
Fairchild Semiconductor
74F283SJX
$0 $/morceau
MC10H179L
onsemi
MC10H179L
$0 $/morceau
MC10EP16D
onsemi
MC10EP16D
$0 $/morceau
SN74ACT8997DW
Texas Instruments
SN74ACT8997DW
$0 $/morceau
74F181SPC
Fairchild Semiconductor
74F181SPC
$0 $/morceau
SY58602UMG-TR
Microchip Technology
SY58602UMG-TR
$0 $/morceau
SN74LVTH18502APMR
Texas Instruments
SN74LVTH18502APMR
$0 $/morceau
SN74F1056DR
Texas Instruments
SN74F1056DR
$0 $/morceau
MC10H330FN
onsemi
MC10H330FN
$0 $/morceau
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