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SN74BCT8240ANTG4

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SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

SN74BCT8240ANTG4 Fiche de données

non conforme

SN74BCT8240ANTG4 Tarifs et commandes

Quantité Prix ​​unitaire Prix ​​ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
Ajouter au souhait
Réduction des coûts de nomenclature
Réduction des coûts de nomenclature
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Nom Valeur
statut du produit Obsolete
type logique Scan Test Device with Inverting Buffers
tension d'alimentation 4.5V ~ 5.5V
nombre de bits 8
température de fonctionnement 0°C ~ 70°C
type de montage Through Hole
paquet / étui 24-DIP (0.300", 7.62mm)
package d'appareils du fournisseur 24-PDIP
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Numéro de pièce associé

SN74ABT18640DGGR
Texas Instruments
SN74ABT18640DGGR
$0 $/morceau
PI74SSTVF16857KE
Diodes Incorporated
PI74SSTVF16857KE
$0 $/morceau
74LVC1GX04DCKTG4
Texas Instruments
74LVC1GX04DCKTG4
$0 $/morceau
SSTU32864AHLF
Renesas Electronics America Inc
SSTU32864AHLF
$0 $/morceau
IDT74SSTVN16859CPAG
Renesas Electronics America Inc
IDT74SSTVN16859CPAG
$0 $/morceau
SY100EL16VFZC TR
Microchip Technology
SY100EL16VFZC TR
$0 $/morceau
SY100E116JY
Microchip Technology
SY100E116JY
$0 $/morceau
CD74ACT283E
Harris Corporation
CD74ACT283E
$0 $/morceau
SSTUH32866EC,557
NXP USA Inc.
SSTUH32866EC,557
$0 $/morceau
CD74ACT283EG4
Texas Instruments
CD74ACT283EG4
$0 $/morceau
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