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SN74BCT8373ADWRE4

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SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

SN74BCT8373ADWRE4 Fiche de données

compliant

SN74BCT8373ADWRE4 Tarifs et commandes

Quantité Prix ​​unitaire Prix ​​ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
Inventory changes frequently.
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Réduction des coûts de nomenclature
Réduction des coûts de nomenclature
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Nom Valeur
statut du produit Obsolete
type logique Scan Test Device with D-Type Latches
tension d'alimentation 4.5V ~ 5.5V
nombre de bits 8
température de fonctionnement 0°C ~ 70°C
type de montage Surface Mount
paquet / étui 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
package d'appareils du fournisseur 24-SOIC
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Numéro de pièce associé

SY10EL16VDKI-TR
Microchip Technology
SY10EL16VDKI-TR
$0 $/morceau
SY10E116JY-TR
Microchip Technology
SY10E116JY-TR
$0 $/morceau
SSTUA32866EC/G,557
NXP USA Inc.
SSTUA32866EC/G,557
$0 $/morceau
SSTVA16859AKLF
Renesas Electronics America Inc
SSTVA16859AKLF
$0 $/morceau
74SSTUA32866BFG
Renesas Electronics America Inc
74SSTUA32866BFG
$0 $/morceau
SN74STV16857DGGRG4
Texas Instruments
SN74STV16857DGGRG4
$0 $/morceau
SN74LS181NG4
Texas Instruments
SN74LS181NG4
$0 $/morceau
74GTLP22034DGGRE4
Texas Instruments
74GTLP22034DGGRE4
$0 $/morceau
MM74C908N
onsemi
MM74C908N
$0 $/morceau
SY100S815ZH-TR
Microchip Technology
SY100S815ZH-TR
$0 $/morceau
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