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SN74BCT8373ADWRG4

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SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

SN74BCT8373ADWRG4 Fiche de données

compliant

SN74BCT8373ADWRG4 Tarifs et commandes

Quantité Prix ​​unitaire Prix ​​ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
Inventory changes frequently.
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Réduction des coûts de nomenclature
Réduction des coûts de nomenclature
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Nom Valeur
statut du produit Obsolete
type logique Scan Test Device with D-Type Latches
tension d'alimentation 4.5V ~ 5.5V
nombre de bits 8
température de fonctionnement 0°C ~ 70°C
type de montage Surface Mount
paquet / étui 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
package d'appareils du fournisseur 24-SOIC
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Numéro de pièce associé

SSTUB32864AHLF
Renesas Electronics America Inc
SSTUB32864AHLF
$0 $/morceau
74ACT1284TTR
STMicroelectronics
74ACT1284TTR
$0 $/morceau
SN74LS31DRE4
Texas Instruments
SN74LS31DRE4
$0 $/morceau
SY10EP16VZC
Microchip Technology
SY10EP16VZC
$0 $/morceau
MC100EP16TDR2G
onsemi
MC100EP16TDR2G
$0 $/morceau
SN74ABT8652DLRG4
Texas Instruments
SN74ABT8652DLRG4
$0 $/morceau
SY10EL16VDKC
Microchip Technology
SY10EL16VDKC
$0 $/morceau
MC10H180PG
onsemi
MC10H180PG
$0 $/morceau
SSTVF16857DGV,118
NXP USA Inc.
SSTVF16857DGV,118
$0 $/morceau
PI74SSTU32864NBE
Diodes Incorporated
PI74SSTU32864NBE
$0 $/morceau
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