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SN74BCT8374ADWR

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SN74BCT8374ADWR

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

SOT-23

non conforme

SN74BCT8374ADWR Tarifs et commandes

Quantité Prix ​​unitaire Prix ​​ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
Réduction des coûts de nomenclature
Réduction des coûts de nomenclature
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Nom Valeur
statut du produit Obsolete
type logique Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
tension d'alimentation 4.5V ~ 5.5V
nombre de bits 8
température de fonctionnement 0°C ~ 70°C
type de montage Surface Mount
paquet / étui 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
package d'appareils du fournisseur 24-SOIC
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Numéro de pièce associé

CD40117BMT
CD40117BMT
$0 $/morceau
PI74SSTVF16857AAE
SY100EL16VZI
SY100EP16VZG-TR
SY100EL16VEZC TR
MC100EP16VSDR2
MC100EP16VSDR2
$0 $/morceau
74LVT1403DR,118
74LVT1403DR,118
$0 $/morceau
SY10EP16VKC
SY10EL16VDZC
SSTUA32864EC/G,551
SSTUA32864EC/G,551
$0 $/morceau

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