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SN74BCT8374ANTG4

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SN74BCT8374ANTG4

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

non conforme

SN74BCT8374ANTG4 Tarifs et commandes

Quantité Prix ​​unitaire Prix ​​ext.
1 $0.00000 $0
500 $0 $0
1000 $0 $0
1500 $0 $0
2000 $0 $0
2500 $0 $0
0 items
Réduction des coûts de nomenclature
Réduction des coûts de nomenclature
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Prix ​​de gros pour chaque commande, grande ou petite
Nom Valeur
statut du produit Obsolete
type logique Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
tension d'alimentation 4.5V ~ 5.5V
nombre de bits 8
température de fonctionnement 0°C ~ 70°C
type de montage Through Hole
paquet / étui 24-DIP (0.300", 7.62mm)
package d'appareils du fournisseur 24-PDIP
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Numéro de pièce associé

SY10EL16VCKG
N74F283D,602
N74F283D,602
$0 $/morceau
SSTVF16857DGG,512
SSTVF16857DGG,512
$0 $/morceau
SSTUH32864EC/G,518
SSTUH32864EC/G,518
$0 $/morceau
SY10EP16UZG
CD4007CN
CD4007CN
$0 $/morceau
SSTV16859DGG,118
SSTV16859DGG,118
$0 $/morceau
SY10EL16VBKG

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