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Nom | Valeur |
---|---|
statut du produit | Obsolete |
type logique | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
tension d'alimentation | 4.5V ~ 5.5V |
nombre de bits | 8 |
température de fonctionnement | 0°C ~ 70°C |
type de montage | Through Hole |
paquet / étui | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
package d'appareils du fournisseur | 24-PDIP |
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